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泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC DUO測量原理

1. 金剛石測針與驅(qū)動裝置
   采用耐磨的金剛石測針部件和精密機動驅(qū)動裝置，確保測針沿被測表面水平移動時行進距離的準確性。

2. 壓電傳感與信號轉(zhuǎn)換
   當(dāng)測針劃過表面波峰和波谷時，高靈敏度壓電傳感器會檢測測針的垂直位移，并將機械運動轉(zhuǎn)換為電信號。

3. 數(shù)字化處理與參數(shù)計算
   電信號經(jīng)數(shù)字化處理后傳輸至微處理器，通過標準化算法（如ISO 4287）即時計算出Ra、Rz、Rp、Rv、Rt等粗糙度參數(shù)。

泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC DUO

其他核心功能與技術(shù)特點

1. 藍牙無線通信
   驅(qū)動裝置與顯示/控制單元之間采用藍牙技術(shù)實現(xiàn)快速可靠的數(shù)據(jù)傳輸，支持5米范圍內(nèi)遠程操作。

2. 分體式設(shè)計
   通過滑軌和鎖定裝置分為顯示/控制單元與驅(qū)動單元，便于測量狹小空間或復(fù)雜位置。